测定钼粉末粒度的方法
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- 分类：钼的知识
- 发布于 2013年4月03日
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测定钼粉末粒度的方法很多，最常用的是筛分法。筛分法是用一套筛子，按筛网孔径的大小依次叠合，从上往下孔径是由大到小，把一定重量的钼粉末放入第一层筛子内，在振动机上振动15分钟，钼粉末被各级筛子按一定粒度范围分成许多级。然后称出各级钼粉末的重量，换算出重量的百分数。
筛网孔径的大小以1英寸筛网上筛孔的个数来表示。例如：100目，筛就是1英寸筛网上有100个孔，网目数越大，筛孔的孔径越小，通过的钼粉末就越细。
筛分法适用于粗粉和中等粒度的钼粉末，不适用于分析极细钼粉末和超细钼粉末。测定细钼粉末粒度的方法有显微镜法，沉降法和气体沉降法等。下表列举了测定钼粉末粒度的各种方法:
|
测 定 方 法 |
相应的粒度测定范围（微米） |
|
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筛 分 法 |
＞40 |
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显微镜法 |
光学显微镜 |
0.5～500 |
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电子显微镜 |
0.001～10 |
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沉降法 |
沉降管 |
1～100 |
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沉降天平 |
1～100 |
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浊度法 |
0.01～20 |
|
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气体沉降法 |
空气分级仪 |
1～100 |
|
气体沉降粒度测定仪 |
1～100 |
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|
其它方法 |
电阻法 |
1～500 |
|
透过法 |
0.2～20 |
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