ICP - AES 法测定钼铁中Mo ,Si ,Cu ,Sb ,Sn的实验结果与讨论
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- 分类：钼的知识
- 发布于 2015年10月21日
- 作者：xinyi
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分析波长和内标线
根据上述干扰试验情况选定了元素的分析波长,由于IRIS/ HR 型光谱仪在测定过程中对落在CID 检测器不同位置的分析波长分别进行高波段(λ> 260nm) 和低波段(λ< 260nm) 两次积分检测,所以用360.073nm 的Y内标线对λ> 260nm 的分析线以及224.306nm 的Y内标线对λ< 260nm 的分析线分别进行校正。
精密度和微量元素检出限
对同一个钼铁试样分别进行8 次分析测定,计算其相对标准偏差。对用质量分数为65 %Mo和35 %Fe 打底并按试样相同操作处理而成的基体空白溶液平行测定10 次,其3 倍标准偏差为方法的微量元素理论检出下限,见表3 。
从表3 可知:主体元素和微量元素的相对标准偏差分别小于1 %和3 %。采用内标校正法,使得主体元素Mo 的测定获得良好的精密度,且微量元素检出限低,可满足钼铁中基体和微量元素同时测定的需要。
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