ICP - AES 法测定钼铁中Mo ,Si ,Cu ,Sb ,Sn
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- 分类：钼的知识
- 发布于 2015年10月16日
- 作者：xinyi
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以电感耦合等离子体光谱法( ICP - AES) 直接同时进行钼铁中基体元素Mo 和微量杂质元素Si ,Sb ,Sn ,Cu 的测定。试验了元素的干扰情况,优化了仪器工作条件,采用钇内标校正与同步背景校正、K系数校正相结合的方法消除基体及试液进样的物理化学影响干扰。精密度、回收率、检出限、标准样品分析对照均取得了满意的结果。
钼铁广泛应用于冶炼结构钢、耐热钢、耐酸钢及工具钢,传统分析方法采用光度法测Sb ,极谱法测Sn ,重量法测Si ,原子吸收法或萃取光度法测定Cu ,乙酸铅或82羟基喹啉重量法测Mo,干扰影响大,分析流程长,且不同元素必须采用不同的测定方法。过去ICP - AES 法多用于测定微量元素,为发挥现代ICP 光谱仪优良的性能,本文建立了ICP - AES 直接同时测定钼铁中主量和微量杂质元素的分析方法,方法简便易行、快速准确,能替代原有的化学分析方法。
仪器及工作参数：IRIS/ HR 型全谱直读等离子体光谱仪(美国热电公司) 。工作条件:见表1 。
钼产品详情查阅：http://www.molybdenum.com.cn/Chinese/index.html
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