藍寶石襯底的影響進程的LED發光效率

 
 

在這項工作中使用的氮化鎵樣品用金屬有機化學氣相沉積(MOCVD)到c面藍寶石基板上生長,氮化鎵系LED的共藍寶石基板同結構被使用。它由大約200微米,那麼1um的未摻雜氮化鎵層, 2um的導電的n型氮化鎵層,氮化銦鎵/ 氮化鎵多量子阱(MQW)有源層的低溫氮化鎵緩沖層,以及約0.5um的對型氮化鎵層上的頂部。該設備制造的示意性過程示。首先,我們做芯片晶圓上的通用方法,該方法包括共同的氮化鎵LED的制造步驟。光刻和幹法刻蝕是在牛津Plasmalab 100電感耦合等離子體(ICP)反應器,以暴露n型氮化鎵,那麼標准的剝離工藝的鎳金(5nm/5nm )作為p型氮化鎵歐姆接觸的材料,鈦進行/鋁/鈦/金作為通過電子束蒸發的n型歐姆接觸。

退火之後,將鎳-澱積銀和剝離的襯墊,完成芯片在晶片的制造過程。其次,我們研磨和拋光的晶圓到100um的, 200微米和400um分開。的厚度的影響的研究之後,本200um的樣本被選擇為使得底部紋理樣本。樣品的部分是剛磨出的底部,使不規則的粗糙底面。樣品的其它部分是通過等離子體增強化學氣相沉積(PECVD) ,使氧化矽掩模在晶片的底部。然後幹法蝕刻中的牛津Plasmalab 100 ICP反應器中進行,其中在動力ICP源操作(1300W) 。在最後的樣品通過激光劃線和倒裝芯片刻劃於矽-副安裝座,以形成倒裝芯片LED 。亮度強度由向上側光電檢測器檢測。


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