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ICP - AES 法測定鉬鐵中Mo ,Si ,Cu ,Sb ,Sn的實驗結果與討論

分析波長和內標線

根據上述干擾試驗情況選定了元素的分析波長,由於IRIS/ HR 型光譜儀在測定過程中對落在CID 檢測器不同位置的分析波長分別進行高波段(λ> 260nm) 和低波段(λ< 260nm) 兩次積分檢測,所以用360.073nm 的Y內標線對λ> 260nm 的分析線以及224.306nm 的Y內標線對λ< 260nm 的分析線分別進行校正。

精密度和微量元素檢出限

對同一個鉬鐵試樣分別進行8 次分析測定,計算其相對標準偏差。對用品質分數為65 %Mo和35 %Fe 打底並按試樣相同操作處理而成的基體空白溶液平行測定10 次,其3 倍標準偏差為方法的微量元素理論檢出下限,見表3 。

從表3 可知:主體元素和微量元素的相對標準偏差分別小於1 %和3 %。採用內標校正法,使得主體元素Mo 的測定獲得良好的精密度,且微量元素檢出限低,可滿足鉬鐵中基體和微量元素同時測定的需要。

 

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