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ICP - AES 法測定鉬鐵中Mo ,Si ,Cu ,Sb ,Sn

以電感耦合等離子體光譜法( ICP - AES) 直接同時進行鉬鐵中基體元素Mo 和微量雜質元素Si ,Sb ,Sn ,Cu 的測定。試驗了元素的干擾情況,優化了儀器工作條件,採用釔內標校正與同步背景校正、K係數校正相結合的方法消除基體及試液進樣的物理化學影響干擾。精密度、回收率、檢出限、標準樣品分析對照均取得了滿意的結果。

鉬鐵廣泛應用于冶煉結構鋼、耐熱鋼、耐酸鋼及工具鋼,傳統分析方法採用光度法測Sb ,極譜法測Sn ,重量法測Si ,原子吸收法或萃取光度法測定Cu ,乙酸鉛或82羥基喹啉重量法測Mo,干擾影響大,分析流程長,且不同元素必須採用不同的測定方法。過去ICP - AES 法多用於測定微量元素,為發揮現代ICP 光譜儀優良的性能,本文建立了ICP - AES 直接同時測定鉬鐵中主量和微量雜質元素的分析方法,方法簡便易行、快速準確,能替代原有的化學分析方法。

儀器及工作參數：IRIS/ HR 型全譜直讀等離子體光譜儀(美國熱電公司) 。工作條件:見表1 。



 

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